基于电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)技术测定不同材料中Th/U放射性含量

10 May 2024, 17:00
20m
一楼泸峰厅VIP会议室

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01 - 分会报告 11 - 低本底技术 11 - 低本底技术

Speaker

院霞 李 (中国科学院高能物理研究所)

Description

基于电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)技术测定不同材料中Th/U放射性含量
李院霞(代表低本底组)

电感耦合等离子体质量谱法(ICP-MS)广泛应用于筛选中微子、暗物质和双β衰变等低本底探测器的材料研究。该报告主要介绍了采用不同前处理方法对不同材料中Th/U放射性含量的精确测量。目前有成熟测量方法的材料主要包括不同的有机样品如烷基苯(LAB)、液闪(LS);聚合材料如有机玻璃、聚酰亚胺(Kapton)、PFA、FEP、PTFE等;硅等半导体材料。对于固体有机材料,建立了干灰化的前处理方法,该方法解决了不同有机材料的富集前处理且可以达到亚ppt的检出水平。对于液态有机样品如烷基苯,我们采用液相酸萃的富集前处理方法,在99%置信水平下的方法检出限(MDL)可达0.18/0.15ppq232Th/238U水平。对于其他材料如PI, SiO2, Si等测量方法也将在本次报告中介绍。

Primary author

院霞 李 (中国科学院高能物理研究所)

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