Speaker
皓文 邓
(成都理工大学)
Description
中子深度剖面分析是一种针对同位素特异性的近表面无损表征技术，通过具有位置灵敏特性的探测器，如硅微条探测器、像素探测器等，搭建测量系统获取轻元素浓度随深度变化的分布图像，而图像的质量与探测器的空间位置分辨率紧密相关。
对于此类成像应用的位置灵敏探测器而言，ASIC是构建其读出电子学系统的通解。但ASIC主要采用快慢通道分别获取核事例的幅度与时间信息，面对探测器上的核事例堆积难以厘清事例间边界，在成像时难以利用这部分数据，会导致成像边界模糊。对此，本文采用通用AFE芯片完成硅微条探测器的电子学通道读出，通过全波形实时直采的方式获取探测器所有通道的核脉冲信号，并在数字主控中完成定时触发、堆积剥谱、滤波成形等数字算法处理，进而提高成像质量。
Primary author
皓文 邓
(成都理工大学)
Co-authors
剑 杨
(成都理工大学)
国强 曾
(成都理工大学)
