Speaker
Long Chen
(华中师范大学)
Description
NνDEx(No Neutrino Double-beta-decay Experiment)是基于高压气体时间投影室（TPC）新型无雪崩放大电荷测量技术来寻找六氟化硒无中微子双贝塔衰变现象的实验。位于端盖的前端读出电子学平面是实验成败的关键与核心部分。前端电子学相关ASIC主要包含用于电荷收集与测量的CSA芯片Topmetal-S，以及用于波形数字化及数据传输的模数混合芯片DROC（Digitizing and Readout Controller）。Topmetal-S需要实现等效输入噪声电荷（ENC）小于45个电子，且满足单节点所需支持的电荷量的动态范围。DROC芯片则包含基于Sigma-Delta结构的低速高精度模数转换器（ADC），芯片间数据互传的接口，以及对Topmetal-S进行配置的慢控接口。本报告将介绍该实验读出电子学对芯片的设计需求，并基于此着重介绍DROC芯片的设计方法与仿真验证。同时将简单介绍Topmetal-S设计迭代与测试结果。
Primary author
Long Chen
(华中师范大学)
Co-authors
Kai Chen
(Central China Normal University)
Yichen Yang
Ziyi He
(华中师范大学)
